Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN IEC 60747-7:1997-12

Отменен
Semiconductor discrete devices and integrated circuits - Part 7: Bipolar transistors (IEC 60747-7:1988 + A1:1988 + A2:1994)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

На этот документ ссылаются

DIN EN 60747-15:2004-08
Отменен
Discrete semiconductor devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2003); German version EN 60747-15:2004 — 54 стр.
DIN EN 60747-16-1:2002-07
Отменен
Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits; Amplifiers (IEC 60747-16-1:2001); German version EN 60747-16-1:2002 — 47 стр.
DIN EN 60749-23:2011-07
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011 — 11 стр.
DIN EN 60749-34:2011-05
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010); German version EN 60749-34:2010 — 12 стр.
DIN EN 60747-15:2012-08
Действует
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010); German version EN 60747-15:2012 — 28 стр.
DIN EN 60027-2:2007-11
Действует
Letter symbols to be used in electrical technology - Part 2: Telecommunications and electronics (IEC 60027-2:2005); German version EN 60027-2:2007 — 92 стр.
DIN EN 153000:1999-01
Действует
Generic specification: Discrete pressure contact power semiconductor devices (Qualification approval); German version EN 153000:1998 — 22 стр.
DIN 41791-5:1972-10
Отменен
Semiconductor devices for telecommunication; recommendations for data sheets, power transistors — 2 стр.
DIN 41792 Beiblatt 3:1968-07
Отменен
Low-power semiconductor devices measuring methods; thermal resistance — 2 стр.
DIN 41791-4:1974-03
Отменен
Semiconductor devices for telecommunication; recommendations for data sheets, low-power signal transistors — 3 стр.
DIN 41791-6:1976-06
Отменен
Semiconductor devices for telecommunication; recommendations for data sheets, switching transistors — 4 стр.
DIN 41793-2:1974-03
Отменен
Low pover semiconductor devices; electrical reference measuring methods, transistors — 5 стр.
DIN 41792 Beiblatt 1:1971-09
Отменен
Semiconductor devices for telecommunication; measuring methods, transistors — 14 стр.