DIN EN 60749-40:2012-02

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011 — 23 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

DIN IEC 60749-40:2009-06

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 47/2012/CD:2009)