DIN EN 60749-34:2009-10

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling (IEC 47/2027/CDV:2009); German version FprEN 60749-34:2009

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-20:2003-12

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-20:2003 — 25 стр.