Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN EN 60749-3:2018-01

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017); German version EN 60749-3:2017 — 14 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 62483:2013 ed1.0
Действует
Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices — 96 стр.
IEC 61340-5-1:2016 ed2.0
Заменен
Electrostatics - Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - General requirements — 40 стр.
IEC 60749-9:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.
DIN EN 60749-3:2017-05
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 47/2345/FDIS:2016); German version FprEN 60749-3:2016
DIN EN 60749-3:2003-04
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002 — 5 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-3:2003-04
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002 — 5 стр.