Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
DIN IEC 62047-12:2010-05
Отменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: A method for fatigue testing thin film materials using the resonant vibration of a MEMS structure (IEC 47F/43/CD:2010)
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
DIN IEC 62047-12:2010-05
Отменен
