Стандарты DIN ICS 31 Electronics / Электроника 31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

DIN EN 62047-13:2012-10

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (IEC 62047-13:2012); German version EN 62047-13:2012 — 17 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом