Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50434:1986-02
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; detection of crystal defects in monocrystalline silicon using etching techniques on {111} and {100} surfaces
— 9 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы