DIN EN 62047-2:2007-02

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006); German version EN 62047-2:2006 — 14 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

BS EN ISO 6892-1:2009

Действует

Metallic materials. Tensile testing. Method of test at ambient temperature — 76 стр.