Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN 50438-2:1982-08

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurty content in silicon by infrared absorption; carbon — 5 стр.
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы