Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN EN 60749-38:2008-10
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
— 14 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
