Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN EN 60749-7:2012-02

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011); German version EN 60749-7:2011 — 12 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом