Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50443-2:1994-06
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; recognition of defects and inhomogeneities in semiconductor single crystals by X-ray topography; III-V-semiconductor compounds
— 7 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы