DIN EN 60749-16:2003-09

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003); German version EN 60749-16:2003 — 8 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

BS EN 61340-5-1:2007

Заменен

Electrostatics. Protection of electronic devices from electrostatic phenomena. General requirements — 22 стр.