Стандарты DIN ICS 31 Electronics / Электроника 31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы 31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

DIN EN 62047-18:2014-04

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013); German version EN 62047-18:2013 — 15 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом