Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN 50442-1:1981-02

Отменен
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices — 3 стр.
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы