Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50441-4:1999-03
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 4: Slice diameter, diamter variation, flat diameter, flat length, flat depth
— 8 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
