Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN EN 60749-15:2003-10

Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2003); German version EN 60749-15:2003 — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

DIN IEC 60068-2-20:1991-04
Отменен
Electrical engineering; basic environmental testing procedures; test T: soldering; identical with IEC 60068-2-20:1979 (status as of 1987)
DIN EN 60749-15:2011-06
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010); German version EN 60749-15:2010 + AC:2011 — 11 стр.
DIN EN 60749:2002-09
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 — 74 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749:2002-09
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 — 74 стр.
DIN EN 60749-15:2011-06
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010); German version EN 60749-15:2010 + AC:2011 — 11 стр.