Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN EN 60749-20:2003-12

Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-20:2003 — 25 стр.
DIN EN 60749:2002-09
Отменен
DIN EN 60749:2001-09
Отменен
DIN EN 60749:2000-02
Отменен
DIN EN 60749-20:2003-12
Отменен
DIN EN 60749-20:2010-04
Действует