Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN EN 62418:2010-12

Действует
Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010); German version EN 62418:2010 — 19 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
25.220.40 Metallic. Including electrolytic depositions, cathodic coatings, autocatalytic coatings, etc. / Металлические покрытия. Включая электролитическое осаждение, катодные покрытия и т.д.