Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50455-1:1991-06
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; methods for characterizing photoresists; determination of coating thickness with optical methods
— 3 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Заменен на
DIN 50455-1:2009-10
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
