DIN 50432:1980-09

Отменен

Testing of semi-conducting inorganic materials; determination of the conductivity type of silicon or germanium by means of rectification test or hot-probe — 3 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

DIN 50437:1979-06

Отменен

Testing of semi-conductive inorganic materials; measuring the thickness of silicon epitaxial layer thickness by infrared interference method — 6 стр.

BS EN 50513:2009

Действует

Solar wafers. Data sheet and product information for crystalline silicon wafers for solar cell manufacturing — 36 стр.

ÖVE/ÖNORM EN 50513:2010-02

Действует

Solar wafers - Data sheet and product information for crystalline silicon wafers for solar cell manufacturing (english version)