Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50445:1992-04

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method; homogeneously doped semiconductor wafers — 4 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы