Стандарты DIN ICS 31 Electronics / Электроника 31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры

DIN EN 61967-2:2006-03

Действует

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 61967-2:2005); German version EN 61967-2:2005 — 24 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

33.100.20 Immunity / Защищенность

31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры