Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN EN 60749-4:2003-04

Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002 — 9 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
Заменен на
DIN EN 60749-4:2017-11
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом