Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN EN 60749-22:2003-12

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength (IEC 60749-22:200 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-22:2003 — 20 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом