Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50436:1976-10

Отменен
Testing of semi-conducting inorganic materials - Measurement of the metalurgic thickness of epitaxial layers of silicon by the stacking fault method
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50436:1976-10
Отменен