Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

DIN EN 62047-18:2011-06

Отменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bending test methods of thin film materials (IEC 47F/76/CD:2011)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN EN 62047-18:2011-06
Отменен