Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN EN 60749-19:2003-10
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003); German version EN 60749-19:2003 + Corrigendum 2003-06
— 7 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Заменен на
DIN EN 60749-19:2011-01
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом