Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN EN 60749-2:2003-04

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002 — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

DIN EN 60068-2-13:2000-02
Отменен
Environmental testing - Part 2: Tests; test M: Low air pressure (IEC 60068-2-13:1983); German version EN 60068-2-13:1999 — 6 стр.
DIN IEC 60068-2-13:1985-08
Отменен
Electrical engineering; basic environmental testing procedures; tests; test M: low air pressure; identical with IEC 60068-2-13, edition 1983
DIN EN 60749:2002-09
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 — 74 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749:2002-09
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 — 74 стр.