Стандарты DIN ICS 31 Electronics / Электроника 31.080 Semiconductor devices / Полупроводниковые приборы 31.080.30 Transistors / Транзисторы

DIN EN 62373:2007-01

Действует

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006 — 14 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

31.080.30 Transistors / Транзисторы