Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50447:1995-04

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical sheet resistance of semiconductor layers with the eddy-current method — 2 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
Без обозначения
DIN 50447:1995-04
Отменен