Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59

inform@normdocs.ru

Стандарты DIN

DIN 50443-1:1988-07

Отменен

Testing of materials for use in semiconductor technology; detection of crystal defects and inhomogeneities in silicon single crystals by X-ray topography — 10 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы