Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN EN 60749-29:2004-07
Отменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003); German version EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004
— 22 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
