Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN EN 62047-8:2011-12

Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011); German version EN 62047-8:2011 — 20 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом