Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-13:2002 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere — 9 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-13:2018 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere — 28 стр.
IEC PAS 62183:2000 ed1.0
Заменен
øSalt atmosphere Salt atmosphere — 4 стр.
IEC 60749-13:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere — 0 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 62149-2:2010-05
Отменен
Fibre optic active components and devices - Performance standards - Part 2:850 nm discrete vertical cavity surface emitting laser devices (IEC 62149-2:2009); German version EN 62149-2:2009 — 21 стр.
17/30355772 DC
Действует
BS EN 62047-33. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 33. MEMS piezoresistive pressure-sensitive device — 25 стр.
IEC 60749-13:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere — 0 стр.
IEC 60695-6-2:2011 ed1.0
Заменен
Fire hazard testing - Part 6-2: Smoke obscuration - Summary and relevance of test methods — 69 стр.
IEC PAS 62183:2000 ed1.0
Заменен
øSalt atmosphere Salt atmosphere — 4 стр.