IEC 60749-15:2020 ed3.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices — 17 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

IEC 60749-15:2010 ed2.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices — 14 стр.