IEC 60749-15:2020 RLV ed3.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices — 27 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

ÖVE/ÖNORM EN 60747-15:2012-10

Действует

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010) (english version)

OVE EN 60749-43:2020-01

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (english version)