Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-17:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
— 11 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.
Заменен на
IEC 60749-17:2019 ed2.0
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом