Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 ed1.0

Заменен
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life — 5 стр.
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 ed1.0
Заменен
IEC 60749-23:2025 ed2.0
Действует