Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-26:2006 ed2.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 27 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-26:2013 ed3.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 91 стр.
IEC 60749-26:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 27 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-43:2017
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans — 42 стр.
BS EN 16603-20-08:2014
Действует
Space engineering. Photovoltaic assemblies and components — 198 стр.
IEC 60749-26:2003 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 27 стр.
IEC 60749-26:2013 ed3.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) — 91 стр.