IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV ed2.1

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 25 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

ÖVE/ÖNORM EN 60749-26:2014-10

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2013) (english version)

ÖVE/ÖNORM EN 62047-5:2012-05

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) (english version)

OVE EN 60679-1:2018-06

Действует

Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality -- Part 1: Generic specification (IEC 60679-1:2017) (english version)