Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 ed2.0

Действует
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 5 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом