IEC 60749-28:2022 ed2.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level — 98 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-28:2017 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level — 97 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-28:2017 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level — 97 стр.