Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-4:2002/COR1:2003 ed1.0

Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 0 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
Modification of the validity date: now put at 2007.
Заменен на
IEC 60749-4:2017 ed2.0
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом