Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-40:2011 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
— 44 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
На этот документ ссылаются
BS EN 60749-37:2008
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer
— 22 стр.
