IEC 60749-44:2016 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices — 41 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

BS IEC 62396-2:2017

Действует

Process management for avionics. Atmospheric radiation effects. Guidelines for single event effects testing for avionics systems — 44 стр.