Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-9:2002/COR1:2003 ed1.0

Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 0 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-9:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.
IEC 60749-9:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-9:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.
PD IEC/TS 62686-1:2015
Действует
Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.
IEC 60749-9:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.