Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-9:2017 ed2.0

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-9:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 0 стр.
IEC 60749-9:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-3:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination — 16 стр.
DIN EN 60749-3:2018-01
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017); German version EN 60749-3:2017 — 14 стр.
IEC 60749-9:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 0 стр.
IEC 60749-9:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking — 9 стр.