Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

IEC 60749:1984/AMD1:1991 ed1.0

Заменен
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. — 33 стр.
IEC 60749:1984/AMD1:1991 ed1.0
Заменен
IEC 60749:1996 ed2.0
Заменен
IEC 60749-36:2003 ed1.0
Действует