IEC 60759:1983/AMD1:1991 ed1.0

Действует

Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers — 4 стр.

На этот документ ссылаются

BS IEC 61435:2013

Действует

Nuclear instrumentation. High-purity germanium crystals for radiationdetectors. Measurement methods of basic characteristics — 36 стр.

BS ISO 15632:2012

Действует

Microbeam analysis. Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis — 22 стр.